3種の分析試験が受託できます

細孔径測定とSEM画像撮影

	SEM（走査電子顕微鏡）画像撮影
	価格および納期　：　お問い合わせください
	JEOL日本電子株式会社製　JSM-6010LVを使用しご希望の倍率で観察、画像の撮影を行います（乾燥物サンプルのみ。ED分析には対応しておりません）。 低真空観察 = 繊維、ガラス、プラスチック等 高真空観察 = 金属、また非金属の場合コーティングしての観察となります。イオンコーティングの素材は金を使用していますので20000倍以上はあまり高精細な画像は撮影できませんが、パワーポイント等に貼り付ける用途でしたら十分な解像度が得られます(材質にもよります）

	ガス吸着法細孔分布測定
	価格および納期　:　お問い合わせください
	マイクロメリティクス社製TristerⅡ3020を使用し細孔分布、比表面積を測定します。 使用するガス　：　窒素ガス　(アルゴンガスでの測定も可能ですが、弊社での測定実績が乏しいため測定値の検証ができておりません) 測定範囲 : 15nm～0.4nm 吸着等温線 BET 表面積 t-プロット BJH吸着：積算細孔表面積 BJH脱着：細孔容積 Dollimore-Heal脱着：細孔面積・表面積 の各ﾌﾟﾛｯﾄに対応。 データ形式はPDF、ASCII（テキストデータ）、Excelの各形式に対応。 納期：サンプル受領後3日～2週間（液体窒素の在庫状況により変化します

	水銀圧入法細孔分布測定
	価格　お問い合わせください
	マイクロメリティクス社製AutoPoreⅣ9500を使用し細孔分布を測定します(比表面積は測定できません)。 測定範囲　500μm～5.5nm 積算圧入容積　／　圧力 ログ微分圧入容積　／　細孔径 数表レポート　　　　 等々 データ形式はPDF、ASCII（テキストデータ）、Excelの各形式に対応 納期：サンプル受領後3日～２週間（水銀の在庫及び使用状況により変化します）