受託分析試験
細孔径測定とSEM画像撮影
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SEM（走査電子顕微鏡）画像撮影 |
| 価格および納期 ： お問い合わせください | |
| JEOL日本電子株式会社製 JSM-6010LVを使用しご希望の倍率で観察、画像の撮影を行います（乾燥物サンプルのみ）。 低真空観察 = 繊維、ガラス、 高真空観察 = 金属、非金属の場合コーティングしての観察となります。イオンコーティングの素材は金を使用していますので20000倍以上はあまり高精細な画像は撮影できません。 |
この画像は弊社のモノリスのSEM画像を倍率順に並べたものです。
倍率はあくまで撮影時のモニターの大きさとの比較になりますのでここに写っている大きさがその倍率にはなりませんが、
同じ画像の大きさで比べた場合10000倍の2倍が20000倍というような大きさの関係になります。
| 画像の例：モノリスシリカゲル20000倍
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シリカビーズ5000倍
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窒素ガス吸着法細孔分布測定 |
| 価格および納期 : お問い合わせください | |
| マイクロメリティクス社製TristerⅡ3020を使用し細孔径を測定します。 測定範囲 : 15nm～0.4nm 吸着等温 BET表面積 t-プロット BJH吸着：積算細孔表面積 BJH脱着：細孔容積 Dollimore-Heal脱着：細孔面積・表面積 の各ﾌﾟﾛｯﾄに対応。 データ形式はPDF、ASCII（テキストデータ）、Exｃellの各形式に対応。 納期：サンプル受領後3日～2週間（液体窒素の在庫状況により変化します |
| データプロット例１
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データプロット例2
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水銀圧入法細孔分布測定 |
| 価格 お問い合わせください | |
| マイクロメリティクス社製AutoPoreⅣ9500を使用し細孔径を測定します。 測定範囲 500μm～5.5nm 積算圧入容積 ／ 圧力 ログ微分圧入容積 ／ 細孔径 数表レポート 等々 データ形式はPDF、ASCII（テキストデータ）、EXcellの各形式に対応 納期：サンプル受領後3日～２週間（水銀の在庫及び使用状況により変化します） |
| データプロット例１
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データプロット例2
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全体を等間隔にプロットしたり設定で自在に変更できます。